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XPS测试

XPS测试

价 格:¥180

仪器安装地址: 北京|深圳|武汉

检测能力:普通/磁性XPS测试,深度剖析,角分辨XPS,原位XPS

检测周期:5 工作日

项目好评率:99.99%

平均完成周期:2 工作日

服务次数:32845 次


项目介绍和特点

X射线光电子能谱,简称XPS,是一种元素分析方法。所用激发源(探针)是单色X射线,探测从样品表面出射的光电子的能量分布。由于电子能谱中包含着样品有关表面电子结构的重要信息,用它可直接研究表面及体相的元素组成、电子组态和分子结构,以此来分析元素的价态,以及样品的分子结构信息(例如同分异构体以及半导体样品的价带顶位置)。对于深度方向非均相样品中,可以进行元素组成的表面分布分析和深度剖析,或者一定程度上的微区定点分析。


XPS测试的特点:

  • XPS定量分析,属于是半定量分析,误差较大。特别是对于C元素定量以及多孔材料的元素定量。

  • XPS测试是微区测试(常规光斑500um),检测深度不超过10nm。薄膜、块体等样品,若样品表面组分不均匀,会造成测试结果的差异;如果材料特殊,或者需要深度分析,需要刻蚀处理。

  • XPS测试有一定的检测限,原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号。


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服务方信息

专属客服

项目评价

检测质量:
5分
服务态度:
5分
检测时效:
5分
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