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XPS数据分析(全国)

XPS数据分析(全国)

价 格:¥100

仪器安装地址:全国

检测能力:XPS价态分析

检测周期:5 工作日

项目好评率:100.00%

平均完成周期:2 工作日

服务次数:1069 次

 

项目介绍

 X射线光电子能谱,简称XPS,是一种元素分析方法。所用激发源(探针)是单色X射线,探测从样品表面出射的光电子的能量分布。由于电子能谱中包含着样品有关表面电子结构的重要信息,用它可直接研究表面及体相的元素组成、电子组态和分子结构,以此来分析元素的价态以及样品的分子结构信息(例如同分异构体以及半导体样品的价带顶位置)。对于深度方向非均相样品中,可以进行元素组成的表面分布分析和深度剖析,或者一定程度上的微区定点分析。

 XPS数据解析是指通过对初始图谱进行定标、分峰、拟合、比对、积分等一系列的操作而获得待测样品结构组成一种数据处理手段,常用的XPS数据解析软件有xps peak fit、Origin、CasaXPS等。通过XPS数据分析我们可得到样品表面的元素组成、含量、化学价态、官能团种类、化学键合方式等信息,可分为定性分析和定量分析两种。

 

测试特点:

1、XPS定量分析,属于是半定量分析,误差较大。特别是对于C元素定量以及多孔材料的元素定量。

2、XPS测试是微区测试(常规光斑500 μm),检测深度不超过10 nm。薄膜、块体等样品,若样品表面组分不均匀,会造成测试结果的差异;如果材料特殊,或者需要深度分析,需要刻蚀处理。

3、XPS测试有一定的检测限,原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号。


实验设计:

1、首先确定样品分析目的,比如价态分析,官能团分析,价带顶分析,表面分析等;

2、该测试方法的优劣势(碳污染,微区,半定量带来的数据误差);

3、结合样品实际情况进行设计方案,包括样品种类,如何准备合适样品,如何选择合适参数以期一次性达成测试目标;

4、这个过程中遇到任何问题,联系我们,我们将对实验设计和参数确定,样品制备等问题进行答疑。



服务方信息

专属客服

项目评价

检测质量:
5分
服务态度:
5分
检测时效:
5分
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