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FIB样品制备

FIB样品制备

价 格:¥3700

仪器安装地址:北京检测中心

检测能力:透射样品制备、SEM刨面观察、电路修补、3D重构、3D原子探针、微纳加工

检测周期:7 工作日

项目好评率:99.99%

平均完成周期:3 工作日

服务次数:953 次


项目介绍

 

作为带电粒子,离子和电子一样在固体材料中会发生一系列散射,在散射过程中不断失去所携带的能量最后停留在固体材料中。这其中分为弹性散射和非弹性散射,弹性散射不损失能量,但是改变离子在固体中的飞行方向。非弹性散射损失能量,因为离子与固体材料中原子的质量是相当的,离子与固体材料中的原子碰撞有能量损失。离子在材料中的损失主要有两个原因,一是原子核损失,离子与固体材料中原子的原子核碰撞将部分能量传递给原子,使原子或移位或完全脱离固体材料表面,这一现象就是溅射,FIB加工中刻蚀功能就是依靠这一原理实现的。另一种损失是电子损失:将能量传递给原子核周围的电子,使这些电子或被激发产生二次电子发射,或剥离固体原子核周围的部分电子,使原子电离成离子,产生二次离子发射。



服务方信息

专属客服

项目评价

检测质量:
5分
服务态度:
5分
检测时效:
5分
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