场发射透射电镜（HRTEM）秒杀

       Tecnai G2 F30 S-TWIN 透射电子显微镜是一个真正多功能、多用户环境的300kV场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件，能采集TEM明场、暗场像和高分辨像，能进行选区电子衍射和汇聚束衍射，能进行EDX能谱分析和高分辨STEM原子序数像的分析，STEM结合EDX点、线、面扫描的可以进行微区能谱分析。该仪器还配备了相关的制样设备，包括Gantan691离子减薄仪、磁力双喷电解减薄器和凹坑仪等，可以进行金属、生物以及高分子材料等样品的透射电子显微镜的制样工作。该仪器可广泛应用于高分子材料、陶瓷、纳米材料、生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体材料等领域的科研，是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的大型精密仪器。