放大倍数：30倍-80万倍 加速电压：0.5-30kKV
点分辨率：1.0nm (15 kV)； 1.4nm(1 kV, WD = 1.5mm, 减速模式) 信号选择：二次电子模式和背散射模
样品台最大直径：50mm 倾转角：T: -5-70°,R:360°
X射线能谱仪元素分析范围：B5～U92 X射线能谱仪能量分辨率：130 eV
（一）纳米材料检测案例
二氧化硅纳米颗粒形貌像 交联剂交联的聚合物微球形貌像
（二）纳米材料高倍形貌像检测案例
碳纳米管高倍形貌像 介孔材料高倍形貌像
（三）磁性材料检测案例
氧化镍磁性颗粒低倍形貌像 氧化镍磁性颗粒高倍形貌像
（四）薄膜样品表面检测案例
玻璃基底上钙钛矿薄膜表面形貌像 玻璃基底上聚合物薄膜表面形貌像
（五）薄膜样品截面检测案例
硅基底上单层薄膜截面形貌像 玻璃基底上五层钙钛矿薄膜截面形貌像
（六）高分子材料检测案例
高分子滤膜表面孔结构形貌像 高分子滤膜截面孔结构形貌像
（七）生物样品检测案例
大肠杆菌形貌像 昆虫绒毛表面孔结构形貌像
（八）能谱点测检测案例
碳材料上负载的氧化物颗粒能谱点测案例（一） 碳材料上负载的氧化物颗粒能谱点测检测案例（二）
（九）能谱线扫检测案例
根茎截面能谱线扫案例（一） 根茎截面能谱线扫案例（二）
（十）能谱面分布检测案例
镁掺杂的电池材料能谱面分布（一） 镁掺杂的电池材料能谱面分布（二）