欢迎来到百测网!  请 登录注册 全国免费热线:4009955399

您的位置: 百测网>送样检测>高端原位>原位TEM >原位加热TEM

原位加热TEM

原位加热TEM

检测能力:在透射电镜下,利用芯片原位观察材料在加热过程中微结构的连续变化现象

检测周期:10 工作日

项目好评率:暂无评价

服务次数:32 次

送样要求

纳米材料:粉末≥2mg;

块体材料:样品需要FIB制样,要求样品表面光滑,且高度低于6mm,长度小于2cm。


TEM原位试验参数

一、单倾杆

DENS Solution 公司 Wildfire 系统。Wildfire 原位加热样品杆旨在探索材料在极端高温下的反应和状态变化而设计,其优越的稳定性超越了市场上大部分的同类产品,温度范围最高可达 1300 ℃,并在所有的方向上保证优异的温度控制性和样品稳定性,确保了在高温下观察样品动态变化过程,且 TEM 保持最高的分辨率和分析性能。

主要性能参数:

1)加热控制:四探针法;

2)温度范围:RT - 1300 ℃;

3)温度均匀性:≥ 99.5 %

4)分辨率:≤ 60 pm(取决于透射电子显微镜配置);

5)漂移率:≤ 0.5 nm/min6视野范围:850 µm2

二、双倾杆

双倾杆所用的样品杆是Bestron科技有限公司的INSTEMS-MT,可开展TEM原位拉伸、压缩、力热耦合等多种原位实验。通过极限局域化加热设计,INSTEMS-MT可在极宽温度范围对样品施加力学载荷。

主要性能参数:

1)温度范围:RT - 1200 ℃;

2)控温稳定性<±1℃

3)最大驱动力> 2 mN

4)最大驱动范围2 μm *

5)驱动精度< 0.5nm

6)空间分辨率≤0.1 nm *


结果示例

1000℃循环加载

image.pngimage.pngimage.png


服务方信息

科研顾问

项目评价

检测质量:
5分
服务态度:
5分
检测时效:
5分
版权所有©北京中科百测信息技术有限公司 网站XML地图 备案号:京ICP备2024077948号-1