送样要求
纳米材料：粉末≥2mg；
块体材料：样品需要FIB制样，要求样品表面光滑，且高度低于6mm，长度小于2cm。
TEM原位试验参数
原位光电实验采用泽攸科技公司PicoFemto原位STM-TEM光电一体测量系统。
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体样品杆，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成光学模块，从而实现在透射电镜中进行原位光电测量或者光谱学表征研究。
主要参数：
电学测量指标：
1）包含一个电流电压测试单元；
2）电流测量范围：1nA-30mA，9个量程；
3）电流分辨率：优于100 fA；
4）电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；
5）自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。
扫描探针操纵指标：
1）粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；
2）细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；
3）细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。
光纤指标：
1）光纤外径250 um，保证电镜系统真空指标；
2）可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜；
3）可选SMA接头、FC接头。
结果示例
原位加电
