检测能力
常用作表征材料缺陷、杂质、晶界、相分布、能带结构、发光中心，可获取形貌图像、CL 灰度图、CL 光谱、CL 面分布 mapping等信息，用于半导体、矿物、陶瓷、荧光材料、纳米材料发光特性表征。
项目介绍
阴极荧光 (Cathodoluminescence，简称 CL)，是扫描电镜（SEM）的一种附属表征技术，利用高能电子束轰击样品表面，样品受激发产生荧光信号；结合电镜形貌，可以同步得到微观形貌与对应微区的发光信息。可以实现点、线、面扫描，获取微区光谱、CL 成像 mapping，用来分析缺陷、杂质、晶粒、异质结、发光位点等信息。
送样要求
1、粉末样品：3mg以上。
2、块状 / 薄膜样品：长宽高1cm以内，样品测试面尽量平整。
注意：磁性样品需要提前说明。
结果示例
