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离子减薄制样(深圳)

离子减薄制样(深圳)

价 格:¥500

仪器安装地址:深圳检测中心

检测能力:透射电镜块体样品制备

检测周期:5 工作日

项目好评率:100.00%

平均完成周期:5 工作日

服务次数:461 次

   

离子减薄仪

Leica EM RES102   美国莱卡公司生产
离子减薄案例1.png        

技术参数

Technical Parameters           
离子束能量: 0.8-10 KeV可调                                                                                             离子束流:4.5mA                 
减薄角度:0°-90°                                                                                                                 最大样品尺寸:直径25mm,高度12mm             

应用范围

Applied Range

       Leica EM RES102 多功能离子减薄仪是莱卡公司生产的一款集TEM、SEM和LM样品制备功能于一体的全自动桌面式设备。通过离子枪激发获得离子束,以一定入射角度对样品进行轰击,以去除样品表面原子,从而实现对样品的离子束加工。该设备具有高能量离子研磨功能,也能用于低能量及温和的离子束研磨,抛光区域可达25 mm,研磨过程参数全电脑控制。该设备广泛用于无机薄片样品的大面积减薄以有利于TEM观察,也可对样品表面污染层或涂层进行清洁,或用于样品表面的离子束刻蚀,便于SEM扫描电子显微镜观察样品内部结构信息。            

利用它可以进行

应用范围                
可用于制备金属、陶瓷、薄膜、半导体材料等各种块体材料的透射电镜试样(包括截面样品)。             

检测案例

Test Case

(一)离子减薄案例  

努力添加中........                  

送样要求

Sample Requirement
块体样品:样品直径3mm,厚度小于100um,若大于该尺寸将收取相应的机械抛光或切割费用。
               
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服务方信息

专属客服

项目评价

检测质量:
5分
服务态度:
5分
检测时效:
5分
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