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价 格:¥240
仪器安装地址:深圳检测中心
检测能力:形貌分析、结构分析、成分分析
检测周期:5 工作日
项目好评率:99.99%
平均完成周期:3 工作日
服务次数:7417 次
FEI Talos F200X透射电子显微镜是一个真正多功能、多用户环境的200kV场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件,能采集TEM明场、暗场像和高分辨像,能进行选区电子衍射和汇聚束衍射,能进行EDX能谱分析和高分辨STEM原子序数像的分析,STEM结合EDX点、线、面扫描的可以进行微区能谱分析。该仪器还配备了相关的制样设备,包括Gantan691离子减薄仪、磁力双喷电解减薄器和凹坑仪等,可以进行金属、生物以及高分子材料等样品的透射电子显微镜的制样工作。该仪器可广泛应用于高分子材料、陶瓷、纳米材料、生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体材料等领域的科研,是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的大型精密仪器。
(一)纳米材料检测案例
多层石墨烯高分辨像 钙钛矿量子点高分辨像
(二)块体材料检测案例
单晶硅晶格条纹像 块体样品晶格条纹像
(三)选区电子衍射检测案例
非晶材料选区电子衍射图 单晶材料选区电子衍射图
(四)能谱点测检测案例
不锈钢能谱点测检测案例(一) 不锈钢能谱点测检测案例(二)
(五)能谱线扫检测案例
Pt包覆Au核壳结构线扫形貌像 Pt包覆Au核壳结构线扫图谱
(六)能谱面分布检测案例
Pt包覆Au核壳结构面分布综合图谱 Pt包覆Au核壳结构Au单元素图谱
周一到周日 8:30 - 21:30
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